王贤浩博士后开题报告

2009年4月1日下午，由密歇根大学潘晓晴教授和京都大学田中功教授联合招收的博士后王贤浩做了题为“氧化物薄膜微结构对其电磁性能影响的TEM研究”的开题报告。氧化物薄膜作为应用广泛性能优良的电子材料受到人们广泛的关注，其中多铁BiFeO₃和RRAM电阻型存储材料因其巨大的潜力成为了研究的热点。但是对其电输运性质的研究，多存在于从宏观性质上的推演，而缺乏对微结构的直接观察。报告人希望通过对微结构的调查研究，发现其对电输运性质的直接影响，并希望同时发现降低了漏电的BiFeO₃的薄膜磁性的来源。

王贤浩博士2001年毕业于中国地质大学材料科学与工程系，2007年毕业于中科院上海硅酸盐研究所获材料物理与化学博士学位，从事功能氧化物微结构和透射电镜的研究。 开题报告之后，他将飞赴日本，在田中功教授的课题组进行课题研究。